基于故障检测和可靠性约束的传感器布局优化

传感器布局优化是实现机电设备机内测试(BIT)系统设计优化的重要方法之一,保证系统对检测目标具有较好的检测效能是传感器布局优化的重要约束.通过测试信息模型分析,可知传感器自身可靠性问题将会影响系统效能的实现.本文在分析传感器故障概率对测试系统故障检测效能的影响的基础上,以传感器的故障概率和最小及传感器总价格最小为优化目标,以故障检测率、故障隔离率及虚警率为约束,基于系统故障——传感器的测试信息模型,设计并构建了一个传感器布局多目标优化的非线性整数规划模型(MINLP),对其求解可得到BIT系统的传感器布局优化设计方案,并以某伺服BIT系统为例进行优化设计分析.