基于变游程编码的测试数据压缩算法

基于IP核的设计思想推动了SOC设计技术的发展,却使SOC的测试数据成几何级数增长.针对这一问题,本文提出了一种有效的测试数据压缩算法——变游程(Variable-Run-Length)编码算法来减少测试数据量、降低测试成本.该算法编码时同时考虑游程0和游程1两种游程,大大减小了测试数据中长度较短游程的数量,提高了编码效率.理论分析和实验数据表明,变游程编码能取得较同类编码算法更高的压缩效率,能够显著减少测试时间、降低测试功耗和测试成本.