动态电路的混合时序分析方法
, PP. 1571-1576
Keywords: 动态电路,时序验证,混合时序分析方法,测试波形生成
Abstract:
本文基于四事件周期波形模型,提出了一般动态门、LO-CMOS、NTP动态门和N-C2MOS锁存器正确工作的时序约束.将混合时序分析方法应用于动态电路的延时计算,提出了动态门延时测试波形的生成算法,能有效处理多个输入同时翻转对延时的影响.本文的研究成果已在SpiceTime中实现,并且应用于一个32位动态加法器的设计,取得了良好效果,如果不考虑伪路径的影响,求值延时和预充延时的最大误差分别为3.62%和8.26%.
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