微波Q值测量中的馈线相移消除方法

提出了一种实用的测量微波谐振器无载品质因素的方法,在临界点法的基础上,消除了馈线引入的相移.该相移的出现会使谐振器等效阻抗曲线在Smith圆图中发生旋转,进而影响到测量结果.通过在Smith圆图中对测量的输入阻抗曲线进行旋转,根据寻找出的一个目标函数来判断合适的旋转角度,即为馈线引入的相移.对所提出的方法进行了数值模拟,并通过了一组实测数据做了验证.