一种新的阵列误差有源校正算法
, PP. 517-524
Keywords: 阵列校正,互耦,幅相误差,阵元位置误差,复对称循环Toeplitz矩阵
Abstract:
阵列互耦、幅相误差以及阵元位置误差的综合影响会严重影响阵列天线的测向性能．针对均匀圆阵，该文基于特征空间类方法给出了一种新的阵列误差有源校正算法．新算法是以交替迭代的方式给出，其目标函数建立在子空间基本原理的基础上，并且适用于多个校正源同时存在的情况．文中还给出了阵列误差参数估计唯一性的必要条件，仿真实验验证了新算法的有效性．
Full-Text
