含谷电离层频高图剖面分析

本文在引进含谷电离层群、相高关系式以及含谷实际分布与单调等效分布“剖面差”概念的基础上,提出了从频高图估算谷电离的一种程序,并从理论上说明了相高曲线在剖面分析中的重要作用。利用本程序对实测频高图既可作分片处理也可作模式换算。它可用于确定剖面的精细结构以及日常的剖面分析。