基于CGMD302光谱仪的甜玉米生长发育指标监测研究

为了明确甜玉米不同生育期生长发育指标与光谱仪冠层光谱参数的定量关系,进而为甜玉米生长指标快速监测提供决策依据,开展了正甜68不同施钾水平的田间试验,于拔节期、大喇叭口期以及抽雄期利用CGMD302光谱仪采集玉米冠层光谱反射率,并同步测定各处理茎粗、叶面积指数(LAI),研究各光谱参数与生长指标之间的关系。结果表明,归一化植被指数(NDVI)与茎粗和LAI呈正相关关系,而比值植被指数(RVI)与茎粗和LAI呈负相关关系。经检验,基于NDVI和RVI构建的单个时期监测模型可以有效地反演甜玉米茎粗和LAI,模型检验结果良好,预测精度均在0.9以上,均方根误差均小于10%,平均相对误差均小于5%。