有间隙Ⅱ—Ⅵ族半导体材料散射特性的三维边缘元分析

用三维边缘元方法分析了有间隙Ⅱ－Ⅵ族半导体材料的散射特性，该方法直接从泛函变分出发避开了其它方法中示肯损超薄介质填充波导本征值和本片函数的困难，简化了求解过程，计算结果与实验值的比较证实了本方法具有有效，可靠和精确的特点。