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ISSN: 2333-9721
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红外光学系统杂光PST的研究与测试

Keywords: 红外光学系统,杂散光,点源透过率

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Abstract:

介绍了表征光学系统抑制水平的定量指标——点源透过率ＰＳＴ．提出了红外光学系统杂光指标ＰＳＴ的一种测试方法，并在１０．６μｍ波长处，测试了口径为１８０ｍｍ的全反射Ｒｉｔｃｈｅｙ－Ｃｈｒｅｔｉｅｎ红外系统在不同入射角时的点源透过率ＰＳＴ（θ）．

 References

[1]  曾庆勇，微弱信号检测，1986年

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