立方晶体红外弹光性光谱测量研究

随着电光、声光晶体器件的应用以及对晶体完整性和残余应力的检测和研究,促进了晶体弹光性的研究。本文对有重要意义的m3m对称立方晶体(如硅、锗等)的压光系数及其色散规律进行了红外光谱测量研究,取得一些有意义的结果。根据理论推证,通过偏振光干涉,对厚度为d经加载后的晶体,测量它引起双折射的光程差ΔR=(n_∥-n_⊥)d,就可得到