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Keywords: 移相扫描,电光采样,集成电路芯片
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分析了倍频移相扫描法的工作原理,介绍了用倍频移相扫描法构成的电光采样测量系统.测量了高速GaAs动态分频器集成电路芯片,并给出分频关系波形的测量结果.
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