基于PCIE的红外焦平面探测器测试系统

介绍了一套自制高效的红外焦平面器件性能参数测试系统，建立了包括控制模块、辐射源、UFPA模块、信号采集模块和上位机程序在内的测试平台，分析了该系统平台的关键技术。系统可实现实时的数据采集，同时对RMS噪声、非均匀性、响应率、探测率、噪声等效功率和噪声等效温差等关键参数进行快速有效的计算分析，并能准确统计出盲元的数量和位置，分析、评估和存储器件每个像元的性能参数。