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ISSN: 2333-9721
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激光成像仪器中的行、场扫描同步控制

, PP. 736-739

Keywords: 自动控制技术,激光扫描,PWM,同步精度,数字PID,行、场扫描,双芯片,自动控制技术,激光扫描,PWM,同步精度,数字PID,行、场扫描,双芯片

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Abstract:

为了提高光点的位置精度,从而提高成像质量,提出了一种基于PWM控制的双光栅反馈的控制方案。基于数字PID原理,利用微处理器和H桥组件LMD18200,构建了全数字化的双芯片同步系统,实现了水平光学扫描和由直流力矩电机驱动的垂直扫描的同步控制。该系统结构简单,控制参数完全由软件设定,调整方便。自检方格测试结果证明,相对于开环步进电机驱动方法,同步控制精度从±50μm提高到±20μm。

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