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DOI: 10.11830/ISSN.1000-5013.1993.02.0175
Keywords: 半导体薄膜, 微区分析, 硒化镉
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本文用电子探针对硒化镉薄膜进行微区分析,对薄膜的成分和厚度进行同时测定,并分析了制备条件对薄膜参数的影响。
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