微种植体辅助整体内收上前牙段的头影测量

目的研究微种植体支抗在矫治上颌前突病例中整体内收上前牙段的应用。方法选择5例上颌前突患者,拔除第二前磨牙,采用直丝弓矫治技术,辅以微种植体支抗同时整体内收前牙段(6个前牙及2个第一前磨牙),通过X线头影测量分析,观察矫治前后上颌骨软硬组织的变化。结果上颌骨的变化轻微;切牙平均内收(4.6±1.5)mm,压低(0.8±1.1)mm,根尖后移(1.7±1.4)mm,切牙与腭平面的夹角减少(6.8±3.5)度;支抗磨牙水平前移(0.5±0.3)mm,没有出现明显的颌向伸长;上唇突度减少(2.0±0.9)mm,鼻唇角增大(3±2.4)度。结论微种植体能提供稳定的支抗,同时整体内收上前牙段,最大限度避免支抗的丧失,改善上唇突度。