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控制理论与应用 2010
不完全量测下随机有偏离散系统的Cramér-Rao下界DOI: 10.7641/j.issn.1000-8152.2010.7.CCTA090248 Keywords: 状态估计,不完全量测,随机有偏,Cramér-Rao下界 Abstract: 针对含有不完全随机有偏测量序列的状态估计问题,给出了统计意义下的修正递推估计误差方差Cramér-Rao下界(CRLB)求解算法.首先建立了不完全随机有偏量测离散系统的数学模型,进而推导了枚举的CRLB和统计意义的CRLB计算式,该统计意义的CRLB为枚举CRLB的下界,其计算量远小于枚举CRLB求解的计算量.最后,以给定探测概率和偏差发生率下的一类光电跟踪系统为例,进行了数字仿真.
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