系统级芯片测试调度最优总线指定方法

为了缩短采用系统级芯片设计的电子产品的测试时间，提出了一种基于遗传算法的系统级芯片测试调度总线指定方法。在该方法中，建立了最优测试调度的遗传算法模型。为了使算法过程更稳健，更快地趋近于全局最优解，在传统遗传算法的基础上引入了差分进化、精英策略、自适应变异等几种机制，并通过实验与基于整数线性规划的测试调度方法进行比较，结果表明，所需的测试时钟周期数较少，适应于测试大规模系统级芯片。