大米淀粉糊化过程的光谱分析

采用衰减全反射傅立叶变换红外光谱仪跟踪测定了不同品种大米淀粉的糊化过程，同时与X-射线衍射仪测定的淀粉结晶度相对比，研究了淀粉颗粒内结晶结构在糊化过程中变化的详细情况.利用红外光谱仪计算出天然大米淀粉及其在糊化过程中各个阶段代表结晶区特征的1047cm-1和代表非晶区特征的1022cm-1两处红外吸收峰强度的比值.结果表明，天然淀粉的结晶区主要由支链淀粉侧链的双螺旋结构所形成；在加热过程中淀粉的结晶结构被破坏，并且直链淀粉含量越高，其结晶结构在糊化过程中破坏越慢，说明直链淀粉能抑制淀粉结晶结构的破坏.利用X-射线衍射仪测定了大米淀粉糊化过程各个阶段的结晶度，进一步验证了淀粉的结晶结构在糊化过程中的损失.虽然，两种测定方法对“结晶度”的定义不同，但对于淀粉结晶程度的测定具有相关性和可比性，能为研究淀粉的糊化行为提供有利的补充信息.