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高分子学报 2010
利用小角/广角X射线散射联用及一维相关函数分析研究聚(ε-己内酯)片晶的形态DOI: 10.3724/SP.J.1105.2010.10048, PP. 1136-1142 Keywords: 聚(ε-己内酯),片晶,广角X射线散射,小角X射线散射,一维相关函数 Abstract: 用小角/广角X射线散射(SAXS/WAXS)联用的实验方法考察了等温结晶温度(Tc)和等温时间对聚(ε-己内酯)(PCL)片晶形态的影响.根据WAXS数据计算了PCL的重量结晶度,进而求得其体积结晶度Vc(WAXS).在不同Tc下结晶的PCL样品的Vc(WAXS)均略高于50%.对SAXS谱线做一维相关函数(1DCF)分析,得到了PCL的片晶长周期(LP)和无定形层厚度(La).通过比较WAXS及SAXS的数据分析结果,认为PCL晶体需用“三相模型”予以描述,其过渡层厚度(E)约为LP的15%~18%,对片晶形态具有重要影响.随着Tc升高,PCL晶体的Lc、La及E均逐渐增大,但Lc的变化率最大,这使得结晶度上升.在50℃等温结晶不同时间,发现Lc随延长时间显著增加,而La及E则不断减小.等温10天后,PCL晶体的SAXS谱线上可观察到5级散射,表明片晶相当完善.
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