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高分子学报 1990
离聚体的结构表征Ⅲ.EXAFS法测定含氟的铜离聚体的精细结构, PP. 667-674 Keywords: 离聚体,扩展X-射线精细结构吸收谱,结构表征 Abstract: 本文报道了用先进的EXAFS及ESR等方法研究了羧酸型含氟的铜(Ⅱ)离聚体离子微区的内部精细结构,结果表明,铜离聚体的离子微区主要由羧酸根桥键的双核配位结构单元及平面四方形的配位结构单元等聚集而成。在双核配位结构单元中第一层为Cu2+—O配位,配位数为4,配位键键长为1.96A,第二配位层为Gu2+—Cu2+配位,Cu2+—Gu2+数为4,配位键键长为1.96A。共聚物中羧基含量对离聚体的基本配位结构单元和离子微区的精细结构影响较小,但对微区大小有影响。
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