FRS—XRSA表征双轴取向PET的结晶度

全倒易空间Ｘ－射线散射理论分析（ＦＲＳ—ＸＲＳＡ）是研究与表征择优取向高聚物结晶度与取向分布的一种新方案,它可以解决粉沫法测定结晶度时取向试样难以消取向的困难,测定拉伸和回复过程中正在形变的取向试样的结晶度．在以前的工作中,对双轴取向的薄膜,仅进行了幅度β＝０°（ＭＤ）与９０°（ＴＤ）两个轴向,△α＝１０°的ＸＲＳ测定,这样推得的结晶度事实上是ＭＴ双轴ＸＲＳ的结晶度,即ＭＴ－ＸＲＳ结晶度Ｘ,这种处理包含着ＸＲＳ沿ＭＴ方向作均匀分布的近似．本文为了澄清这一问题,作了下述三点改进第一,利用ＦＲＳ中ＸＲＳ的强度分布,内插计算αｉ；,βｉ＝０°～９０°,△βｉ＝１０°的ＸＲＳ,由此求得较符合理论要求的ＦＲＳ－ＸＲＳ结晶度Ｘ；第二,进行了ＦＲＳ－ＸＲＳ的极角因子ｃｏｓαｉ；校正；第三,合理地处理了当极角αｉ＝９０°时出现奇点的困难．结果较合理．同时亦获得了晶粒度在ＦＲＳ中的分布情况．