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, PP. 561-565
Keywords: 单晶,交流电路,碲化镉,阻抗测量,半导体电极,光刻,循环伏安法,光电极
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本文应用循环伏安法研究了n型碲化镉单晶电极的光致腐蚀行为;并运用PARM368电化学阻抗系统测得了此电极在不同电位下的交流复阻抗图,估算了此电极表面态密度及其它参数。实验结果表明,n-CdTe/液体结具有Sehottky结的特征,此电极的Fermi能级可能有"钉扎"现象。
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