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化学学报 1994
疏水硅沸石Silicalite-I)结构性质的表征, PP. 573-577 Keywords: 红外分光光度法,X射线衍射分析,硅化合物,疏水性,付里叶变换,硅沸石 Abstract: 用粉末XRD,FT-IR,29^SiMASNMR,对高硅HZSM-5沸石及疏水硅沸石SilicaliteI进行结构性质表征。在室温下,疏水硅沸石具有ZSM-5的单斜对称性。它的红外骨架振动谱及高分辨29^Si固体核磁共振谱均显示出高的分辨率。在红外光谱中,3700和3500cm^-1左右的表面Si-OH基振动消失。表明疏水硅沸石晶格中的[SiO~4]四面体排列完美。由-Si-O-Si-构成的微也表面,具有优良的疏水性。
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