多周期脱硫/再生对脱硫剂Ce-Fe/ZnO表面结构及再生性能影响

通过透射电子显微镜(TEM),X射线衍射(XRD),X射线光电子能谱(XPS)等技术对多周期脱硫/再生后CFZ脱硫剂微观结构进行了表征,分析脱硫剂经多周期脱硫/再生结构发生的变化,从微观结构角度探讨脱硫剂结构的变化对脱硫性能的影响.结果表明,第一次再生后脱硫剂的形貌和粒径变化不大,比表面积减小66.8%,孔分布发生较大变化,较大和较小孔径明显减少,10～50nm孔所占比例增加44.6%,再生过程产生硫酸盐|2～5次再生后脱硫剂的结构变化不大,脱硫性能趋于稳定,表明脱硫剂结构和再生过程产生的硫酸盐对脱硫剂表面的覆盖是影响脱硫性能的主要因素|经5次再生,6次脱硫的累计硫容为12.8%,是新鲜脱硫剂1次脱硫硫容的5.56倍.