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Au-Ni-Kovar合金系统基底元素表面偏聚的SAM和XPS研究
, PP. 145-150
Keywords: Au-Ni-Kovar合金系统 ,表面偏聚 ,基底元素 ,扫描Auger探针 ,X射线光电子谱
Abstract:
本文采用SAM和XPS对实用Au-Ni-Kovar合金系统热处理样品(250—350℃,0.5—1.5h)进行了基底元素穿透Au层的表面偏聚研究,给出了这一复杂系统中Ni,Co表面偏聚机理的直观证据,即Ni,Co主要是通过晶界扩散穿透Au层而后以表面扩散覆盖镀Au表面的;表面偏聚元素化学态的研究则不仅表明,氧的吸附和氧化反应是Ni,Co表面偏聚的驱动力,而且发现,上述偏聚会引起样品表面吸水的现象。
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