多族晶面迹线分析方法及其应用
, PP. 33-41
Keywords: 多族晶面,迹线夹角,薄晶,倾动
Abstract:
导出了零倾动和非零倾动状态下各种晶系的薄晶中多族晶面迹线夹角的计算公式,并通过实例得到验证.应用这种分析方法可以标定滑移面、孪生面和其它面缺陷的迹线,特别是确定了M_7C_3中同时存在{011}和{013)孪晶等面缺陷。
References
[1] | 1 Hirsch P, Howie A, Nicholson R B, Pashley D W, Whelan M J. Electron Microscopy of Thin Crystals, London: Butterworths, 1971
|
[2] | 2 黄孝瑛,透射电子显微学.上海:上海科学技术出版社,1987
|
[3] | 3 李玉清.金属学报,1990;26:A177
|
[4] | 4 Morniroli J P, Bauer-Grosse E, Gantois M. Philos Mag, 1983; A48: 311
|
[5] | 5 李玉清,刘锦岩.金属学报,1986;22:A50
|
[6] | 6 李玉清,王慈榕,顾兆丰.金属学报,1992;28:A2259
|
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