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ISSN: 2333-9721
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在扫描电子显微镜中确定断裂面结晶学性质的技术
, PP. 77-194
Abstract:
文中介绍了确定断裂面的结晶学性质的一些技术1.电子通道图分析技术;2.表面特征痕迹分析技术;3.二面角分析技术;4.蚀坑分析技术。对上述技术所存在的问题和局限性进行了讨论,表明这四种技术是互为补充的。根据断裂性质,可以选用其中一种技术去分析其断裂面的结晶学位向。
References
[1] | Coates, D. G., Phil. Mag., 21 (1967) , 6, 1197.
|
[2] | Booker, G. R., Phil. Mag., 21 (1967) , № 10, 1185.
|
[3] | Hirsch, P. B. and Humphreys, C. J., Proc. 3rd SEM Symposium, 1970, p. 449.
|
[4] | 廖乾初,孙福玉,蓝芬兰,电子通道图的分析原理,1976年4月.
|
[5] | Van Essen, C. G., Schulson, E. M. and Donayhay, R. H., Nature, 225 (1970) , 3235, 847.
|
[6] | 廖乾初,孙福玉,蓝芬兰,电子通道图样质量的评价及其控制参数的探讨,1976年.
|
[7] | 廖乾初,待发表工作.
|
[8] | 廖乾初,扫描电子显微镜原理及其基本分析技术,1975年4月.
|
[9] | Motsuda Inoue S. and Okamura Y., Trans Japan Inst. Metals, 11 (1970) , № 5, 371.r
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