全部 标题 作者
关键词 摘要

OALib Journal期刊
ISSN: 2333-9721
费用:99美元

查看量下载量

相关文章

更多...
金属学报  1986 

离子剥离逐层分析的计算机模拟

, PP. 128-133

Full-Text   Cite this paper   Add to My Lib

Abstract:

Auger电子能谱分析与惰性气体离子刻蚀技术相配合测量元素的浓度-深度分布曲线,已广泛用于表面研究中。本工作提出了一个描述离子剥离过程中表层浓度与体内浓度和元素剥离系数之间的关系的数学模型。采用一般文章中常用的假定(1)当离子能量不高时,被溅射原子只来自表面第一层,(2)每种元素的剥离系数在一定的浓度范围内变化不大,近似地看作是常数,(3)在所研究区域内离子的通量

References

[1]  1 Gillam, E., J. Phys. Chem. Solid, 11(1959) , 55.
[2]  2 Tarng, M.L.; Wehner, G.K., J. Appl. Phys., 42(1971) , 2449.
[3]  3 Ho, P., S.; Lewis, J. E.; Howard, J.K., J. Vac. Sci. Technol., 14(1977) , 322.
[4]  4 Betz, G., Surf. Sci., 92(1980) , 283.
[5]  5 Patterson, W. L.; Shirn, G.A., J. Vac. Technol., 4(1967) . 343.
[6]  6 Shimizu, H.; Ono. M.; Nakayama, K., Surf. Sci., 36(1973) , 817.
[7]  7 Dawson, P.T.; Petrone, S.A., J, Vac. Sci, Technol., 18(1980) , 529.
[8]  8 Ferron, J.; De Bernardez, L.S.; Goldberg, E.C.; Buitrago, R.H., Appl. Surf. Sci., 17(1983) , 241.
[9]  9 Hofer, W.O.; Littmark, U., Phys. Lett., 71A (1979) , 113.
[10]  10 Behrish, R., Sputtering by Particle Bombardment, Vol. 1-Physical Sputtering of Single-Element Solids, Springer-Verlag, Berlin, 1981.p

Full-Text

Contact Us

service@oalib.com

QQ:3279437679

WhatsApp +8615387084133