用于头盔瞄准具的电磁敏感系统误差的校正

分析了用于头盔瞄准具的电磁敏感系统的系统误差,提出了一种校正方法。该方法可一次校正由于工作环境不良引起的电磁场畸变以及由于三轴天线轴不正交所产生的系统误差,其可行性已被计算机模拟和实验所证明。