环炉分离-固体表面化学发光法测定微量样品中的银

本文提出了环炉分离-固体表面化学发光测定微量样品中银的方法。方法简便,快速,具有很好的选择性。测足的相对标准偏差为8.4%(5.0ngAg,n=11),校准曲线的线性范围是0.5～50ngAg。此方法已用于合金样品中银的测定。