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, PP. 626-629
Keywords: X-射线荧光分析,散射幂函数法,相干散射,基体校正
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本文发现6~40号元素对能量为20keV的X-射线的质量吸收系数和质量相干散射系数之间呈二次幂函数关系,并据此提出了X-射线荧光定量分析校正基体效应的新方法——RhKa相干散射平方法.用国家标准物质GBW对该原理进行了验证.本法用于硅酸盐地质样品中微量元素的测定取得令人满意的结果.
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