微分吸附计时电位法测定表面活性剂的临界胶束浓度

临界胶束浓度(简称CMC)是表面活性剂的重要特性参量。测定CMC的电化学方法有多种,但利用微分吸附计时电位法测定CMC尚未见报道。由于该方法以悬汞电极代替表面易污染的固体电极而使重现性良好,同时该方法记录的是dtdE～E曲线,因此无需除氧,从而简化了分析手续,提高了分析速度,优于伏安法。我们取代表阴离子表面活性剂类的十二烷基磺酸钠(AS)进行实验,测定结果与业已公认的方法一致。