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ISSN: 2333-9721
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分析化学  2006 

高分辨等离子体质谱法直接测定高纯镓中的痕量元素

, PP. 1570-1574

Keywords: 高分辨电感耦合等离子体质谱,高纯镓,痕量元素,质谱干扰,基体效应,内标

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Abstract:

建立高分辨电感耦合等离子体质谱法(HR-ICP-MS)测定高纯镓样品中Be、Mg、Al、Si、Ti、V、Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Zn、Ge、As、Mo、Ag、Cd、In、Sb、Ba、Pb、Bi等痕量元素的方法。样品用HNO3+HCl经微波消解后,试液直接进样用HR-ICP-MS法同时测定上述元素,在高分辨质谱测量模式下避免了大量的质谱干扰,详细地研究了HCl和高纯镓所产生的基体效应,以Sc、Rh、Tl作为内标元素校正了基体效应,讨论和确定了实验的最佳测定条件。结果表明,23种痕量元素的检出限在0.001~0.21μg/L之间;回收率在89.8%~111.6%之间,相对标准偏差(RSD)小于3.3%。

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