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分析化学 2013
芯片级高场非对称波形离子迁移谱技术检测危险品DOI: 10.3724/SP.J.1096.2013.21272, PP. 986-992 Keywords: 高场非对称波形离子迁移谱,吸气法,易燃易爆危险品 Abstract: 建立了吸气法-芯片级高场非对称波形离子迁移谱(FAIMS)技术,设置进样温度为50℃,载气与样品气流量分别为1500和100mL/min时,测定了10种国家交通部门规定严禁携带的易燃易爆危险品.实验结果表明,利用FAIMS技术可以有效检测多种危险品.实验得到了10种危险品的FAIMS图谱,并对其进行了指纹识别.利用扩散管辅助技术得到10种物质的检测浓度范围约为0.1~20mg/L.此方法方便快速,灵敏度高,具有很好的应用前景.
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