ICP发射光谱法中粉末悬浮体进样方法的研究——Ⅰ.进样系统及影响因素

用ICP-AES法分析样品时,多数样品为溶液。处理难溶样品费时多、易沾污。有时还需加入大量试剂,使得空白或背景增大,影响分析灵敏度和检测能力。有人研究将固体粉末样品或含有固体颗粒的悬浮体直接引入ICP的分析方法[1-8]。Fry及Denton[1]用原始的Babington雾化器将悬浮体样品引入原子吸收;Sugimae和Mizoguchi[2]利用V型槽Babing-ton型雾化器分析空气飘尘颗粒物质;McKinnon等人[3]设计了一种改进的Babington型雾化器-GMK雾化器;Broekaert等人[4]用GMK雾化器分析粉末悬浮体样品。本文对GMK雾化器做了改进,用河流沉积物标准参考物质研究了影响粉末悬浮体进样的各种因素,以及光谱干扰及校正;并用合成标样以折衷条件制定了5个元素的校准曲线,测定了这些元素有基体存在时的检出限,并统计了方法的相对标准偏差。