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, PP. 457-459
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原子荧光光谱法目前已发展成为一种新的痕量分析技术。特别是氢化物法配合无色散原子荧光仪器,在分析As、Sb、Bi、Se、Te及Hg等其他化学手段感到困难的痕量元素时效果更好[1,2]。本文对报导较少的硼氢化钾还原-无色散原子荧光测汞方法作了比较全面的介绍。经过近万个化探样品的分析,证明方法灵敏、快速、可靠,具有一定特点。
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