萃取法-氢化物发生无色散原子荧光法直接测定有机相中痕量碲

氢化物发生-无色散原子荧光光谱法(HGAFS)用于水相中As、Bi、Ge、Pb、Se、Sb、Sn、Te等元素的测定,具有检出限低,方法简便快速等特点,已为许多分析工作者所熟悉。文献[1]报道了在有机相中应用氢化物发生-原子吸收光谱法测定钢中锑。但在有机相中应用HGAFS测定痕量元素尚未见报道。本文用N,N-二甲基甲酰胺(DMF)溶解硼氢化钠,用冰乙酸调节有机相酸度,将HGAFS应用于有机相分析中,成功地测定了水样中痕量碲。本方法有机相中测定Te的检出限(1.7×10-11g)比文献[2]报道的水相中Te的检出限(1×10-10g)降低了一个数量级,并且在预处理过程中利用磷酸三丁醋(TBP)萃取使被测元素浓缩100倍,同时利用萃取分离消除了Cu、Pb等元素的干扰,方法的精密度好(R.S.D为4.9%),回收率高(98.9-101.2%)。