发射光谱光电直读法测定高纯铝中的微量杂质

发射光谱光电直读(简称"光电法”)直接分析固体样品,具有快速、准确、多元素同时测定等优点,但以往的方法,灵敏度都比较低。鹿岛次郎等[1]报导,光电法直接测定高纯铝固体样品中的Fe、Si和Cu时,它们的分析含量范围分别为0.001-1.5%,0.001-2.0%和0.001-1.0%,当它们的含量低于0.01时,分析精度(相对均方偏差)为10%.美国[2]利用1.5米或20米光栅光电直读光谱仪分析上述含量元素时,所得的工作曲线形状是非线性的。