1996-2003年大耀斑事件引起的TEC突然增强的统计分析

利用1996-2003年期间GOES卫星耀斑观测资料和国际GPS观测网的GPS-TEC资料分析X级大耀斑事件引起的电离层电子浓度总含量(TEC)的突然增强(SITEC)现象.对X射线耀斑等级、耀斑日面位置与SITEC的关系进行了分析.结果表明,两者都与SITEC现象的强弱有着一定的正相关性.在消除X射线耀斑等级、耀斑日面位置对电离层SITEC现象的影响后,进而分析了日地距离以及耀斑持续时间对电离层SITEC现象的影响.结果表明,日地距离和耀斑持续时间都是影响SITEC现象的重要参数,日地距离较近时发生的耀斑事件引起的SITEC现象较为强烈.另外,耀斑持续时间越长,SITEC现象越微弱,但是当耀斑持续时间继续延长时,SITEC现象的强弱逐渐趋于不再改变,最后在某值附近达到平衡.还对某些没有在电离层中引起明显SITEC现象的耀斑事件进行了讨论,发现了这类耀斑的一些特征.