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ISSN: 2333-9721
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暴时密度增强区附近电离层不均匀体研究

, PP. 552-557

Keywords: 暴时密度增强(SED),总电子含量(TEC),ROTI指数,电离层不均匀结构

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Abstract:

基于IGS提供的TEC数据,研究了2003年10月大磁暴期间的暴时密度增强(StormEnhancedDensity,SED)现象;利用GPS观测数据,计算出ROTI(StandarddeviationsofROT)指数,分析了SED边界附近电离层小尺度不均匀体结构的时间和空间演变.研究表明,在磁暴主相期间SED边界附近不均匀体随着磁暴的发展逐渐增多;在主相的中后期不均匀体的分布密集度达到最大;在恢复相期间,不均匀体分布很少;随着磁暴的发展,不均匀体开始主要集中在40~45oN范围内,随后向高纬漂移,主要集中在45~55oN范围内.

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