基于晶体电光效应的绝缘子带电检测研究

提出了一种利用基于Pockels效应的光学电场传感器对绝缘子进行带电检测的方法。通过原理分析和实际试验进行了对比论证，验证了这种理论以及实施方式的正确、有效性。实验结果表明，在复合绝缘子高压端，低压端，以及中部的劣化，都能通过电场测量结果表现出来，可为电场法检测劣化绝缘子提供参考。也就是说，使用这种光学电场传感器检测绝缘子的方法结果是科学的、有效的，是解决现有绝缘子带电检测困难，特别是复合绝缘子带电检测手段的重要补充。