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ISSN: 2333-9721
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大鼠眶额叶皮质受损破坏新异性探索行为

DOI: 10.3724/SP.J.1141.2009.05527, PP. 527-533

Keywords: 眶额叶皮质,电损伤,新异性探索,旷场,Y-迷宫,大鼠

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Abstract:

利用旷场测试和Y-迷宫测试两种行为模型检测了双侧眶额叶(orbitofrontalcortex,OFC)电损伤或假损伤雄性SD大鼠的新异性探索行为,探讨了OFC在大鼠探索新异环境中的作用。旷场测试的结果发现,OFC损伤大鼠的行走距离和直立次数较假损组有明显降低;同时,在Y-迷宫测试中与假损伤组大鼠相比,OFC损伤大鼠在新异臂的访问时间和穿梭次数明显降低。提示眶额叶皮质在大鼠新异性探索行为中起着重要作用。

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