热性惊厥临床和脑电图特征与日后癫痫发生关系的研究

目的：探讨热性惊厥（Febrileseizures，FS）患儿脑电图（Electroencephalogram，EEG）特征，揭示EEG阵发性异常与日后发生癫痫的关系。方法：对我院儿科门诊和住院就诊的165例FS患儿于体温恢复正常后7～20d进行视频脑电图（Video-electroencephalogram，VEEG）监测，EEG结果根据阵发性出现棘慢波、尖波或棘波而定位，探讨ＥＥＧ阵发性异常放电与ＦＳ患儿日后发生癫痫关系。结果：本组165例患儿VEEG异常60例（36.36%），其中45例日后发生癫痫。EEG异常率与患者年龄、癫痫家族史、发热温度、FS类型、发作类型、24h内发作超过1次及惊厥持续时间有密切关系。8例广泛性棘慢波者日后发生癫痫的有2例（25%），14例Rolandic区放电9例（64.3%）发生癫痫，21例枕区放电的18例（85.7%）发生癫痫，17例额区放电16例（94.1%）发生癫痫。与广泛性放电相比，额区放电的危险相关系数为48.0。结论：额区阵发性异常放电的FS患儿日后发生癫痫的危险性更大。