电晕老化前后100HN和100CR聚酰亚胺薄膜的电导电流特性实验研究

为研究无机纳米掺杂对聚酰亚胺电荷输运特性的影响，测量了美国杜邦公司生产的原始聚酰亚胺薄膜(100HN型)和纳米Al2O3掺杂耐电晕聚酰亚胺薄膜(100CR型)电晕老化前后的电导电流特性。实验发现，电晕老化前100CR的欧姆区电流明显大于100HN的，而空间电荷限制电流区的电流则明显小于100HN的；电晕老化后，100HN陷阱载流子密度和电老化阈值都减小，而100CR的对应值均增大。分析实验结果后得知，纳米掺杂既可能增加导带热激发自由电子浓度，又可能增大聚合物中电荷陷阱的深度和密度，这2种因素对电导电流的影响效果是相反的，分别主导着低场强和高场强电导电流大小的变化。此外，电晕老化对100CR和100HN电导电流影响不同的机制还有待进一步的研究。