基于电磁拓扑和有限元理论的固体继电器辐射敏感性分析

固体继电器工作在复杂电磁环境中时，外界辐射干扰通过继电器线缆和屏蔽壳上的孔缝进入装置内部，从而对内部敏感电路产生影响，严重时会引起继电器的失效。以某型号直流固体继电器为研究对象，采用电磁拓扑理论分析了平面电磁波通过继电器引线进入内部的线缆耦合和通过屏蔽壳孔缝进入内部的孔缝耦合，将辐射干扰转化为作用于内部电路的等效干扰源，通过求解BLT方程获得内部引脚端部的响应。采用全波有限元仿真软件AnsoftHFSS建立固体继电器的三维有限元模型，仿真结果与电磁拓扑方法的计算结果吻合良好。进一步分析了外接引线长度和屏蔽壳孔缝尺寸对固体继电器辐射敏感性能的影响。所提的固体继电器辐射敏感性分析方法可为继电器的电磁兼容性能分析与预测提供参考。