全部 标题 作者 关键词 摘要
, PP. 831-834
Full-Text Cite this paper Add to My Lib
ESCA(或XPS-X光电子能谱)方法用于研究聚合物薄膜表面结构有其独到之处,因它不需破坏试样表面层而能直接提供有关的信息。如Riggs[1]曾用ESCA研究了经钠/铵处理过的含氟聚合物表面结构,证明处理后的表面脱了氟,并存在不饱和的双键。Clark[2]和Riggs[3]等人研究了氟化聚乙烯薄膜的表面结构。
Full-Text
Contact Us
service@oalib.com
QQ:3279437679
WhatsApp +8615387084133