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科学通报 2001
变质反应中硅氧键总平均值的变化, PP. 78-80 Abstract: 以X射线单晶结构分析的精测资料为依据,计算了33个变质反应前后的硅氧键总平均值,得出结论增温趋向使硅氧键长的总平均值减小,而增压趋向使硅氧键长的总平均值加大.这个结论在理论上的意义在于,在硅酸盐体系中,增温趋向使硅氧键的共价性增强,增压趋向使硅氧键的离子性增强.高压下四面体的硅氧键会增长,超高压下四配位的硅会变成六配位,硅氧键会突然大大增长,即硅氧键的总平均随压力增加而增长,是一个由量变到质变的过程.
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