改进旋涂法制备纳米粉体分析样品

介绍了一种改进旋涂法——DDS涂膜法(Deposit-Dip-Spin-coating),主要用来制备纳米粉体原子力显微镜(AFM)分析样品。DDS法在保证有足够多的纳米颗粒吸附在云母表面的同时,还增大了溶剂的挥发速度,颗粒的运动局限在一个很小的区域,减小了干燥过程中的团聚,纳米颗粒得到很好的分散。采用DDS法制备PbZr0.90Ti0.10O3-Fe0.003(PZT-Fe)纳米粉体样品,得到了清晰的AFM图像。结合扫描电镜(SEM)、透射电镜(TEM)、X射线衍射(XRD)分析,对样品均匀性、可调因素和测量准确性进行了探索,表明DDS法制备的样品质量好,AFM图像直观、真实地反映了纳米晶体的粒径分布情况。