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华东理工大学学报 2009
基于虚特征分解的PQ图像隐写专用检测技术, PP. 265-269 Keywords: 虚特征分解(IED),隐写分析,隐写术,抖动量化(PQ),支持向量机(SVM) Abstract: 提出了基于虚特征分解(IED)特征、针对抖动量化(PQ)隐写术的专用隐写分析方法。利用统计学理论,分析了JPEG图像经PQ嵌入秘密信息后,其空域行和列的线性相关性降低;并在实验结果中得到验证。采用支持向量机(SVM)作为分类器,建立了一个测试数据库;对基于IED特征隐写分析方法进行了隐藏信息检测的仿真实验。实验结果表明:该方法比其他现有的隐写分析方法更有效,对PQ隐写术检测率超过70%,且该方法具有较好的盲检测性能。
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