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哈尔滨工业大学学报 2010
改进Tent混沌序列的数字电路BIST技术DOI: 10.11918/j.issn.0367-6234.2010.04.022, PP. 607-611 Keywords: 时序电路,Tent混沌0-1序列,内建自测试,循环冗余码 Abstract: 针对目前数字电路规模变大,测试困难的特点,提出了一种基于改进Tent混沌序列的数字电路BIST技术.采用改进混沌Tent映射模型构建硬件电路并产生具有白噪声特性的"0-1"随机序列作为数字电路的自动测试生成图形,利用CRC特征电路分析输出响应,并得到混沌序列的测试响应特征码,通过特征码的不同来检测故障.研究表明,本文方法易于BIST技术实现,相比于普通M序列性能优越,能够得到更高的故障检测率和故障隔离率,适合于FPGA等大规模可编程逻辑电路的自动测试.
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